,

Understanding the Impact of Time-Dependent Random Variability on Analog ICs: From Single Transistor Measurements to Circuit Simulations.

, , , , , и .
IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 27 (3): 601-610 (2019)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии