,

Gate-Stack Engineered NBTI Improvements in Highvoltage Logic-For-Memory High-ĸ/Metal Gate Devices.

, , , , , , , , , , , , , , , и .
IRPS, стр. 1-8. IEEE, (2019)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии