,

On Application of Output Masking to Undetectable Faults in Synchronous Sequential Circuits with Design-for-Testability Logic.

, и .
ICCAD, стр. 867-873. IEEE Computer Society / ACM, (2003)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии