Пожалуйста, войдите в систему, чтобы принять участие в дискуссии (добавить собственные рецензию, или комментарий)
Цитировать эту публикацию
%0 Conference Paper
%1 conf/apccas/KietPJ10
%A Kiet, Jong Kiun
%A Pin, Tan Jun
%A Jin, Ang Boon
%B APCCAS
%D 2010
%I IEEE
%K dblp
%P 995-998
%T A fast CRAM SEU error detection scheme for FPGAs.
%U http://dblp.uni-trier.de/db/conf/apccas/apccas2010.html#KietPJ10
%@ 978-1-4244-7454-7
@inproceedings{conf/apccas/KietPJ10,
added-at = {2014-02-19T00:00:00.000+0100},
author = {Kiet, Jong Kiun and Pin, Tan Jun and Jin, Ang Boon},
biburl = {https://www.bibsonomy.org/bibtex/24f2edb028d2906288244940435bc101b/dblp},
booktitle = {APCCAS},
crossref = {conf/apccas/2010},
ee = {http://dx.doi.org/10.1109/APCCAS.2010.5775097},
interhash = {47e5278a5a7dded1f3361445a7041bd0},
intrahash = {4f2edb028d2906288244940435bc101b},
isbn = {978-1-4244-7454-7},
keywords = {dblp},
pages = {995-998},
publisher = {IEEE},
timestamp = {2015-06-19T04:15:07.000+0200},
title = {A fast CRAM SEU error detection scheme for FPGAs.},
url = {http://dblp.uni-trier.de/db/conf/apccas/apccas2010.html#KietPJ10},
year = 2010
}