,

A Novel Gate-Level NBTI Delay Degradation Model with Stacking Effect.

, , , , , и .
PATMOS, том 4644 из Lecture Notes in Computer Science, стр. 160-170. Springer, (2007)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии