Coverage and adequacy in software product line testing
M. Cohen, M. Dwyer, и J. Shi. ROSATEA '06: Proceedings of the ISSTA 2006 workshop on Role of software architecture for testing and analysis, стр. 53--63. New York, NY, USA, ACM, (2006)MR: Ünsere" OVM-Notation wird auf ein relationales Modell abgebildet, um damit Abdeckungskriterien für das Testen von SPL definieren zu können. Mit diesen Kriterien kann die Information gesammelt werden für sogenanntes 'cumulative variability coverage' mit dem gezielt die Testaufwände für neue Produkte der SPL festgelegt werden können. Das Ganze wird durch combinatorial interaction testing ermöglicht. Diese Technik (aus Einzelsystemen bekannt) reduziert die hohe Anzahl von möglichen Kombinationen von Input-Variablen auf wenige Repräsentanten.
Bei IST-SPL könnte man überlegen, diese Technik als Ergänzung einer anderen einzuführen, um höhere Abdeckungsraten zu erreichen.
Der Nachteil ist jedoch immer noch, dass hierbei keine Orakel erstellt werden. Hierfür verweisen die Spezialisten von Combinatorial Testing auf Model Checking beispielsweise..
DOI: http://doi.acm.org/10.1145/1147249.1147257
Аннотация
Software product line modeling has received a great deal of attention for its potential in fostering reuse of software artifacts across development phases. Research on the testing phase, has focused on identifying the potential for reuse of test cases across product line instances. While this offers potential reductions in test development effort for a given product line instance, it does not focus on and leverage the fundamental abstraction that is inherent in software product lines - variability.In this paper, we illustrate how rich software product line modeling notations can be mapped onto an underlying relational model that captures variability in the feasible product line instances. This relational model serves as the semantic basis for defining a family of coverage criteria for testing of a product line. These criteria make it possible to accumulate test coverage information for the product line itself over the course of multiple product line instance development efforts. Cumulative coverage, in turn, enables targeted testing efforts for new product line instances. We describe how combinatorial interaction testing methods can be applied to define test configurations that achieve a desired level of coverage and identify challenges to scaling such methods to large, complex software product lines.
MR: Ünsere" OVM-Notation wird auf ein relationales Modell abgebildet, um damit Abdeckungskriterien für das Testen von SPL definieren zu können. Mit diesen Kriterien kann die Information gesammelt werden für sogenanntes 'cumulative variability coverage' mit dem gezielt die Testaufwände für neue Produkte der SPL festgelegt werden können. Das Ganze wird durch combinatorial interaction testing ermöglicht. Diese Technik (aus Einzelsystemen bekannt) reduziert die hohe Anzahl von möglichen Kombinationen von Input-Variablen auf wenige Repräsentanten.
Bei IST-SPL könnte man überlegen, diese Technik als Ergänzung einer anderen einzuführen, um höhere Abdeckungsraten zu erreichen.
Der Nachteil ist jedoch immer noch, dass hierbei keine Orakel erstellt werden. Hierfür verweisen die Spezialisten von Combinatorial Testing auf Model Checking beispielsweise.
%0 Conference Paper
%1 Cohen2006
%A Cohen, Myra B.
%A Dwyer, Matthew B.
%A Shi, Jiangfan
%B ROSATEA '06: Proceedings of the ISSTA 2006 workshop on Role of software architecture for testing and analysis
%C New York, NY, USA
%D 2006
%I ACM
%K OVM combinatorial line product testing
%P 53--63
%R http://doi.acm.org/10.1145/1147249.1147257
%T Coverage and adequacy in software product line testing
%U http://portal.acm.org/citation.cfm?id=1147249.1147257&coll=Portal&dl=GUIDE&CFID=65839091&CFTOKEN=21681387
%X Software product line modeling has received a great deal of attention for its potential in fostering reuse of software artifacts across development phases. Research on the testing phase, has focused on identifying the potential for reuse of test cases across product line instances. While this offers potential reductions in test development effort for a given product line instance, it does not focus on and leverage the fundamental abstraction that is inherent in software product lines - variability.In this paper, we illustrate how rich software product line modeling notations can be mapped onto an underlying relational model that captures variability in the feasible product line instances. This relational model serves as the semantic basis for defining a family of coverage criteria for testing of a product line. These criteria make it possible to accumulate test coverage information for the product line itself over the course of multiple product line instance development efforts. Cumulative coverage, in turn, enables targeted testing efforts for new product line instances. We describe how combinatorial interaction testing methods can be applied to define test configurations that achieve a desired level of coverage and identify challenges to scaling such methods to large, complex software product lines.
%@ 1-59593-459-6
@inproceedings{Cohen2006,
abstract = {Software product line modeling has received a great deal of attention for its potential in fostering reuse of software artifacts across development phases. Research on the testing phase, has focused on identifying the potential for reuse of test cases across product line instances. While this offers potential reductions in test development effort for a given product line instance, it does not focus on and leverage the fundamental abstraction that is inherent in software product lines - variability.In this paper, we illustrate how rich software product line modeling notations can be mapped onto an underlying relational model that captures variability in the feasible product line instances. This relational model serves as the semantic basis for defining a family of coverage criteria for testing of a product line. These criteria make it possible to accumulate test coverage information for the product line itself over the course of multiple product line instance development efforts. Cumulative coverage, in turn, enables targeted testing efforts for new product line instances. We describe how combinatorial interaction testing methods can be applied to define test configurations that achieve a desired level of coverage and identify challenges to scaling such methods to large, complex software product lines. },
added-at = {2008-06-10T11:24:04.000+0200},
address = {New York, NY, USA},
author = {Cohen, Myra B. and Dwyer, Matthew B. and Shi, Jiangfan},
biburl = {https://www.bibsonomy.org/bibtex/24e49dee20bb58ab0b5160a54950cbf88/ist_spl},
booktitle = {ROSATEA '06: Proceedings of the ISSTA 2006 workshop on Role of software architecture for testing and analysis},
doi = {http://doi.acm.org/10.1145/1147249.1147257},
interhash = {046d1f28efa101163c891cea21dcf5f6},
intrahash = {4e49dee20bb58ab0b5160a54950cbf88},
isbn = {1-59593-459-6},
keywords = {OVM combinatorial line product testing},
location = {Portland, Maine},
note = {MR: "Unsere" OVM-Notation wird auf ein relationales Modell abgebildet, um damit Abdeckungskriterien für das Testen von SPL definieren zu können. Mit diesen Kriterien kann die Information gesammelt werden für sogenanntes 'cumulative variability coverage' mit dem gezielt die Testaufwände für neue Produkte der SPL festgelegt werden können. Das Ganze wird durch combinatorial interaction testing ermöglicht. Diese Technik (aus Einzelsystemen bekannt) reduziert die hohe Anzahl von möglichen Kombinationen von Input-Variablen auf wenige Repräsentanten.
Bei IST-SPL könnte man überlegen, diese Technik als Ergänzung einer anderen einzuführen, um höhere Abdeckungsraten zu erreichen.
Der Nachteil ist jedoch immer noch, dass hierbei keine Orakel erstellt werden. Hierfür verweisen die Spezialisten von Combinatorial Testing auf Model Checking beispielsweise.},
pages = {53--63},
publisher = {ACM},
timestamp = {2008-06-10T13:12:50.000+0200},
title = {Coverage and adequacy in software product line testing},
url = {http://portal.acm.org/citation.cfm?id=1147249.1147257&coll=Portal&dl=GUIDE&CFID=65839091&CFTOKEN=21681387},
year = 2006
}