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Disambiguierung von "Lee, Y. S."

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Transistor Reliability Characterization for Advanced DRAM with HK+MG & EUV process technology.

, , , , , , , , und . IRPS, Seite 6. IEEE, (2022)

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Simon S Lee

In-s Y n

Tsing-i s y Yu

Y Winter

Y Mardiyati

 

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