( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Huang, Liang"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Machine Translation in Pronunciation Space.

, , und . CoRR, (2019)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Liang Liang

Liang-Liang Fu

Qian Liang

Tzan Jing Liang

Shu Chuan Liang

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Adaptive Thresholds Algorithm of Image Denoising Based on Nonsubsampled Contourlet Transform., , und . CSSE (6), Seite 209-212. IEEE Computer Society, (2008)978-0-7695-3336-0.Timing-Based Clone Detection on Android Markets., , , , , und . SecureComm (2), Volume 153 von Lecture Notes of the Institute for Computer Sciences, Social Informatics and Telecommunications Engineering, Seite 375-381. Springer, (2014)Modeling and Understanding the Localization Performance With Network Signatures., , , und . IEEE Access, (2020)Low Power SI Class E Power Amplifier and Rf Switch for Health Care, , und . Volume 4 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 07 - 14. Springer, (Dezember 2010)Multi-Server Multi-User Multi-Task Computation Offloading for Mobile Edge Computing Networks., , , , und . Sensors, 19 (6): 1446 (2019)FDM Rapid Prototyping Technology of Complex-Shaped Mould Based on Big Data Management of Cloud Manufacturing., , , und . Complex., (2018)MAM: Masked Acoustic Modeling for End-to-End Speech-to-Text Translation., , , und . CoRR, (2020)LightMOT: a lightweight convolution neural network for real-time multi-object tracking., , , , und . Int. J. Bio Inspired Comput., 22 (3): 152-161 (2023)An Integrated Optimization-Learning Framework for Online Combinatorial Computation Offloading in MEC Networks., , , , und . IEEE Wirel. Commun., 29 (1): 170-177 (2022)VLSI test through an improved LDA classification algorithm for test cost reduction., und . Microelectron. J., (2022)