( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Tsang, Ivor W."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Understanding Deep Representations Learned in Modeling Users Likes.

, , , , und . IEEE Trans. Image Processing, 25 (8): 3762-3774 (2016)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Ivor Ruf

Leung Tsang

Ivor Jones

Ivor Ruf

Kevin Ivory

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Learning With Augmented Features for Supervised and Semi-Supervised Heterogeneous Domain Adaptation., , , und . IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell., 36 (6): 1134-1148 (2014)Maximum Margin Clustering Made Practical., , und . IEEE Trans. Neural Networks, 20 (4): 583-596 (2009)Simpler core vector machines with enclosing balls., , und . ICML, Volume 227 von ACM International Conference Proceeding Series, Seite 911-918. ACM, (2007)SVDD-Based Pattern Denoising., , , , und . Neural Comput., 19 (7): 1919-1938 (2007)Matching Pursuit LASSO Part II: Applications and Sparse Recovery Over Batch Signals., , und . IEEE Trans. Signal Process., 63 (3): 742-753 (2015)Minimax Sparse Logistic Regression for Very High-Dimensional Feature Selection., , und . IEEE Trans. Neural Networks Learn. Syst., 24 (10): 1609-1622 (2013)Soft Margin Multiple Kernel Learning., , und . IEEE Trans. Neural Networks Learn. Syst., 24 (5): 749-761 (2013)'Who Likes What and, Why?' Insights into Modeling Users' Personality Based on Image 'Likes'., , , , und . IEEE Trans. Affect. Comput., 9 (1): 130-143 (2018)Maximum Penalized Likelihood Kernel Regression for Fast Adaptation., , , und . IEEE Trans. Speech Audio Process., 17 (7): 1372-1381 (2009)Understand Me, if You Refer to Aspect Knowledge: Knowledge-Aware Gated Recurrent Memory Network., und . IEEE Trans. Emerg. Top. Comput. Intell., 6 (5): 1092-1102 (2022)