( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Yang, Ruimin"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Self-attention Deep Saliency Network for Fabric Defect Detection.

, , , , und . BIC-TA (2), Volume 1160 von Communications in Computer and Information Science, Seite 627-637. Springer, (2019)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Ruimin Huang

Ruimin Shen

Ruimin Wang

Ruimin Shen

Yang Yang

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fabric Defect Detection Using Fully Convolutional Network with Attention Mechanism., , , , und . ICCPR, Seite 134-140. ACM, (2019)Effects of discharge angle of jet from a slot orifice on cooling performance for a perforated air ducting system in dairy cattle barn., , , , , , und . Comput. Electron. Agric., (Juli 2023)Network Pruning via Weight Enhancement of Adaptive Exemplar Filters., , , , und . ICCPR, Seite 448-454. ACM, (2023)Noise analysis and characterization of a charge-balancing-based capacitive sensor interface with a resistive reference., und . I2MTC, Seite 1182-1186. IEEE, (2014)Error analysis of a charge-balancing capacitive sensor interface with resistive reference., und . ISIE, Seite 274-280. IEEE, (2014)A time/resistor-referenced capacitive sensor interface for displacement measurement in the sub-nanometer range., und . ISIE, Seite 1-5. IEEE, (2013)Remote Sensing Object Detection based on Attention and Feature Fusion., , , , und . ICCPR, Seite 188-194. ACM, (2023)A Combined Satellite Selection Algorithm., , , , , und . SPAC, Seite 477-480. IEEE, (2018)A Robust Watermarking Scheme Based on Maximum Wavelet Coefficient Modification and Optimal Threshold Technique., , , , und . J. Electr. Comput. Eng., (2015)A Precision Capacitance-to-Digital Converter With 16.7-bit ENOB and 7.5-ppm/°C Thermal Drift., , und . IEEE J. Solid State Circuits, 52 (11): 3018-3031 (2017)