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Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation.

Y. Deshayes, I. Bord-Majek, G. Barreau, M. Aiche, P. Moretto, L. Béchou, A. Roehrig, und Y. Ousten. Microelectron. Reliab., 48 (8-9): 1354-1360 (2008)

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