( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Watanabe, Yukinobu"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Impact of Hydrided and Non-Hydrided Materials Near Transistors on Neutron-Induced Single Event Upsets.

, , , , , , , , , , und . IRPS, Seite 1-7. IEEE, (2020)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Wataru Watanabe

Rie Watanabe

Norihiro Watanabe

Shigeo Watanabe

Shigeo Watanabe

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Characterizing SRAM and FF soft error rates with measurement and simulation., , , , und . Integr., (2019)Polarized Proton Induced Reactions on Lithium Isotopes around 14 MeV, , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). Report, INDC(JPN)-147, NEANDC(J)-159, JAERI-M 91-009. Japan Atomic Energy Research Institute, (Februar 1991)Elastic and Inelastic Scattering of Protons from Oxygen-16, , , , , , , , , und . Report, INDC(JPN)-168, JAERI-M 94-011. Japan Atomic Energy Research Institute, (Februar 1994)Negative and Positive Muon-Induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs., , , , , , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2019)Critical charge dependence of correlation of different neutron sources for soft error testing., , , , und . IRPS, Seite 2. IEEE, (2015)Polarized Proton Induced Breakup of 12C at 16 MeV, , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). Report, INDC(JPN)-156, JAERI-M 92-029. Japan Atomic Energy Research Institute, (März 1992)Polarized Proton Scattering on Lithium Isotopes at 14 MeV, , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). Report, INDC(JPN)-130, NEANDC(J)-143, JAERI-M 89-167. Japan Atomic Energy Research Institute, (November 1989)Impact of Hydrided and Non-Hydrided Materials Near Transistors on Neutron-Induced Single Event Upsets., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IRPS, Seite 1-7. IEEE, (2020)