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Disambiguierung von "Appello, Davide"

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Parallel Multithread Analysis of Extremely Large Simulation Traces.

, , , , , , und . IEEE Access, (2022)

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Davide Pennino

Davide Cadamuro

Davide Batic

Davide Pagani

Davide Cantoni

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip., , , , , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE, (2022)Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test., , , , , , , , , und . DDECS, Seite 1-6. IEEE, (2019)A P1500 Compliant BIST-Based Approach to Embedded RAM Diagnosis., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 97-102. IEEE Computer Society, (2001)Optimized embedded memory diagnosis., , , , , , , , und . DDECS, Seite 347-352. IEEE Computer Society, (2011)Adapting to adaptive testing., , , , , , , , und . DATE, Seite 556-561. IEEE Computer Society, (2010)In-field Data Collection System through Logic BIST for large Automotive Systems-on-Chip., , , , , und . ITC, Seite 646-649. IEEE, (2022)Exploiting Programmable BIST For The Diagnosis of Embedded Memory Cores., , , , , , und . ITC, Seite 379-385. IEEE Computer Society, (2003)A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to Supply Effective Electrical Stress., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IEEE Trans. Computers, 72 (5): 1447-1459 (Mai 2023)A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on Large Automotive System-on-Chips., , , , , , , und . IEEE Access, (2023)Adaptive Management Techniques for Optimized Burn-in of Safety-Critical SoC., , , , , , und . J. Electron. Test., 34 (1): 43-52 (2018)