( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Catthoor, Francky"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
A novel approach for network on chip emulation.

, , , , , , und . ISCAS (3), Seite 2365-2368. IEEE, (2005)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Keine Personen gefunden für den Autorennamen Catthoor, Francky
Eine Person hinzufügen mit dem Namen Catthoor, Francky
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Run-time Task Overlapping on Multiprocessor Platforms., und . J. Signal Process. Syst., 60 (2): 169-182 (2010)Formalized three-layer system-level model and reuse methodology for embedded data-dominated applications., , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 8 (2): 207-216 (2000)Parametric and Functional Degradation Analysis of Complete 14-nm FinFET SRAM., , , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 27 (6): 1308-1321 (2019)Background memory area estimation for multidimensional signal processing systems., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 3 (2): 157-172 (1995)Design and Synthesis of Pareto Buffers Offering Large Range Runtime Energy/Delay Tradeoffs Via Combined Buffer Size and Supply Voltage Tuning., , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 17 (1): 117-127 (2009)Transformation of Nested Loops with Modulo Indexing to Affine Recurrences., , , und . Parallel Process. Lett., (1994)Data dependency size estimation for use in memory optimization., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 22 (7): 908-921 (2003)Experience with Widening Based Equivalence Checking in Realistic Multimedia Systems., , , , und . J. Electron. Test., 26 (2): 279-292 (2010)Energy-aware compilation and hardware design for VLIW embedded systems., , , , , und . Int. J. Embed. Syst., 3 (1/2): 73-82 (2007)Partial scan and symbolic test at the register-transfer level., , und . J. Electron. Test., 7 (1-2): 7-23 (1995)