,

On-chip Pseudorandom Testing for Linear and Nonlinear MEMS.

, , , и .
VLSI-SoC, том 240 из IFIP, стр. 245-266. Springer, (2005)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии