,

Side and Corner Region Non-Uniformities in Grown SiO2 and Their Implications on Current, Capacitance and Breakdown Characteristics.

, , , , , , , , , и .
IRPS, стр. 36. IEEE, (2024)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии