,

Dynamic Test Compaction of a Compressed Test Set Shared Among Logic Blocks.

.
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 43 (1): 394-402 (января 2024)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии