,

Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis

, , , , , , , и .
Review of Scientific Instruments, 80 (3): 033905 (2009)
DOI: 10.1063/1.3100200

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @heprom

Комментарии и рецензии