,

SEM Image Analysis for Quality Control of Nanoparticles.

, , , , , , , и .
CAIP, том 5702 из Lecture Notes in Computer Science, стр. 590-597. Springer, (2009)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии