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Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm., und . DDECS, Seite 232-233. IEEE Computer Society, (2006)An Efficient Method for the Test of Embedded Memory Cores during the Operational Phase., , , und . Asian Test Symposium, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2013)Improving Stress Quality for SoC Using Faster-than-At-Speed Execution of Functional Programs., , , , , und . VLSI-SoC (Selected Papers), Volume 508 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 130-151. Springer, (2016)Cumulative embedded memory failure bitmap display & analysis., , , , , , , und . DDECS, Seite 255-260. IEEE Computer Society, (2010)SW-based transparent in-field memory testing., , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2015)An I-IP based approach for the monitoring of NBTI effects in SoCs., , , , , , und . IOLTS, Seite 15-20. IEEE Computer Society, (2009)On the in-field test of embedded memories., , , und . IOLTS, Seite 67-70. IEEE, (2017)An effective methodology for on-line testing of embedded microprocessors., , , und . IOLTS, Seite 270-275. IEEE Computer Society, (2011)An Integrated Approach for Increasing the Soft-Error Detection Capabilities in SoCs processors., , , , und . DFT, Seite 445-453. IEEE Computer Society, (2005)Diagnosing Faulty Functional Units in Processors by Using Automatically Generated Test Sets., , , , und . MTV, Seite 37-41. IEEE Computer Society, (2005)