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Disambiguierung von "Hosokawa, Toshinori"

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A Test Generation Method Based on k-Cycle Testing for Finite State Machines.

, , und . IOLTS, Seite 232-235. IEEE, (2019)

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Toshinori Kuwahara

Kōmei Hosokawa

Hirofumi Hosokawa

Roberto Tuyoshi Hosokawa

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fault-dependent/independent Test Generation Methods for State Observable FSMs., , und . ATS, Seite 275-280. IEEE, (2007)A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers., , , und . DFT, Seite 1-4. IEEE, (2019)A Test Sensitization State Compaction Method on Controller Augmentation., , , und . IOLTS, Seite 1-6. IEEE, (2020)A Hardware Trojan Circuit Detection Method Using Activation Sequence Generations., , und . PRDC, Seite 221-222. IEEE Computer Society, (2017)A Test Generation Method for Data Paths Using Easily Testable Functional Time Expansion Models and Controller Augmentation., , , und . ATS, Seite 37-42. IEEE Computer Society, (2015)A Test Point Insertion Method to Reduce the Number of Test Patterns., , und . Asian Test Symposium, Seite 298-304. IEEE Computer Society, (2002)A Method of Test Plan Grouping to Shorten Test Length for RTL Data Paths under a Test Controller Area Constraint., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 130-135. IEEE Computer Society, (2003)Evaluation of transition untestable faults using a multi-cycle capture test generation method., , , und . DDECS, Seite 273-276. IEEE Computer Society, (2010)A Test Generation Method Using a Compacted Test Table and a Test Generation Method Using a Compacted Test Plan Table for RTL Data Path Circuits., , und . VTS, Seite 328-335. IEEE Computer Society, (2002)VCore-based design methodology., , , , , , und . ASP-DAC, Seite 441-445. ACM, (2003)