Autor der Publikation

In-depth Analysis of the Effects of Electromagnetic Fault Injection Attack on a 32-bit MCU.

, , , , und . SOCC, Seite 1-6. IEEE, (2022)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen