Autor der Publikation

The Use of Landsat 8 and Sentinel-2 Data and Meterological Observations for Winter Wheat Yield Assessment.

, , , , , und . IGARSS, Seite 6291-6294. IEEE, (2019)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Spectral Adjustment Model's Analysis and Application to Remote Sensing Data., , , , , und . IEEE J Sel. Topics in Appl. Earth Observ. and Remote Sensing, 12 (3): 961-972 (2019)Snow and ice mask for the MODIS aerosol products., , , , , und . IEEE Geosci. Remote. Sens. Lett., 2 (3): 306-310 (2005)Towards a Generalized Approach for Correction of the BRDF Effect in MODIS Directional Reflectances., , und . IEEE Trans. Geosci. Remote. Sens., 47 (3): 898-908 (2009)Validation of High Spatial Resolution Surface Reflectance using a Camera System (CAMSIS)., , , , , , und . IGARSS, Seite 7729-7732. IEEE, (2022)LaSRC (Land Surface Reflectance Code): Overview, application and validation using MODIS, VIIRS, LANDSAT and Sentinel 2 data's., , , und . IGARSS, Seite 8173-8176. IEEE, (2018)Atmospheric Correction Inter-Comparison Exercise., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). Remote. Sens., 10 (2): 352 (2018)The CACAO Method for Smoothing, Gap Filling, and Characterizing Seasonal Anomalies in Satellite Time Series., , , , und . IEEE Trans. Geosci. Remote. Sens., 51 (4-1): 1963-1972 (2013)A 30+ Year AVHRR LAI and FAPAR Climate Data Record: Algorithm Description and Validation., , , und . Remote Sensing, 8 (3): 263 (2016)Masking of Residual Snow and Ice Covered Surfaces for Improving Aerosol Retrievals From MODIS Data., , , , , und . IGARSS, Seite 2236-2238. IEEE, (2006)Enhancing Remote Sensing Based Yield Forecasting: Application to Winter Wheat in United States., , , , , und . IGARSS, Seite 8177-8180. IEEE, (2018)