Autor der Publikation

Externally Referenced Current Source With Stability Down to 1 nA/A at 50 mA.

, , , , , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 68 (6): 2129-2135 (2019)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Performance and Stability Assessment of Graphene-Based Quantum Hall Devices for Resistance Metrology., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. Instrum. Meas., (2023)Externally Referenced Current Source With Stability Down to 1 nA/A at 50 mA., , , , , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 68 (6): 2129-2135 (2019)Counting electrons one by one-overview of a joint European research project., , , , , , , , , und 15 andere Autor(en). IEEE Trans. Instrum. Meas., 52 (2): 584-589 (2003)Steps toward a capacitance standard based on single-electron counting at PTB., , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 54 (2): 666-669 (2005)Improving the Traceable Measurement and Generation of Small Direct Currents., , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 64 (11): 3021-3030 (2015)Interlaboratory Nanoamp Current Comparison With Subpart-Per-Million Uncertainty., , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 68 (6): 1996-2002 (2019)Progress Towards the Electron Counting Capacitance Standard at PTB., , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 58 (4): 997-1002 (2009)Electrometer Calibration With Sub-Part-Per-Million Uncertainty., , , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 68 (6): 1887-1894 (2019)