( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Karimi, Naghmeh"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Reliable NoC architecture utilizing a robust rerouting algorithm.

, , , , und . EWDTS, Seite 200-203. IEEE Computer Society, (2008)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Darius Karimi

Naghmeh Naghibi

Nezam Karimi

Mirwais Karimi

Alamara Karimi

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Leakage Power Analysis in Different S-Box Masking Protection Schemes., , , , und . DATE, Seite 1263-1268. IEEE, (2022)On the Impact of Aging on Power Analysis Attacks Targeting Power-Equalized Cryptographic Circuits., , , und . ASP-DAC, Seite 414-420. ACM, (2021)DFSSD: Deep Faults and Shallow State Duality, A Provably Strong Obfuscation Solution for Circuits with Restricted Access to Scan Chain., , , , , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE, (2020)Reducing Aging Impacts in Digital Sensors via Run-Time Calibration., , , , und . J. Electron. Test., 37 (5): 653-673 (2021)The 28th IEEE European Test Symposium.. IEEE Des. Test, 41 (1): 91-92 (Februar 2024)Prognosis of NBTI aging using a machine learning scheme., und . DFT, Seite 7-10. IEEE Computer Society, (2016)Reconciling the IC test and security dichotomy., , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Security Order of Gate-Level Masking Schemes., , , , und . HOST, Seite 57-67. IEEE, (2023)Aging-Induced Failure Prognosis via Digital Sensors., , , , und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 703-708. ACM, (2023)Exploiting small leakages in masks to turn a second-order attack into a first-order attack., , , , und . HASP@ISCA, Seite 7:1-7:5. ACM, (2015)