Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Getting More out of ITC.. IEEE Des. Test Comput., 23 (5): 432 (2006)Power Supply Transient Signal Analysis Under Real Process and Test Hardware Models., , und . VTS, Seite 357-366. IEEE Computer Society, (2002)Deformations of IC Structure in Test and Yield Learning., , , , , und . ITC, Seite 856-865. IEEE Computer Society, (2003)Detecting delay faults using power supply transient signal analysis., , , , und . ITC, Seite 395-404. IEEE Computer Society, (2001)Using well/substrate bias manipulation to enhance voltage-test-based defect detection., und . ITC, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2011)IC failure mechanisms yesterday, today, tomorrow: implications from test to DFM.. ISPD, Seite 47. ACM, (2006)Test structures for delay variability., , , , , , und . Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems, Seite 109. ACM, (2002)To DFT or Not to DFT?, , , , und . ITC, Seite 557-566. IEEE Computer Society, (1997)SimplerVoice: A Key Message & Visual Description Generator System for Illiteracy., , , , und . CoRR, (2018)Static timing analysis based circuit-limited-yield estimation., , , und . ISCAS (5), Seite 81-84. IEEE, (2002)