( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Kibune, Masaya"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
An 8mW frequency detector for 10Gb/s half-rate CDR using clock phase selection.

, , , , und . CICC, Seite 1-8. IEEE, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Keine Personen gefunden für den Autorennamen Kibune, Masaya
Eine Person hinzufügen mit dem Namen Kibune, Masaya
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A 5Gb/s adaptive DFE for 2x blind ADC-based CDR in 65nm CMOS., , , und . ISSCC, Seite 436-438. IEEE, (2011)Split Capacitor DAC Mismatch Calibration in Successive Approximation ADC., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEICE Trans. Electron., 93-C (3): 295-302 (2010)A 20Gb/s Bidirectional Transceiver Using a Resistor-Transconductor Hybrid., , , , , und . ISSCC, Seite 2102-2111. IEEE, (2006)A combined anti-aliasing filter and 2-tap FFE in 65-nm CMOS for 2× blind 2-;10 Gb/s ADC-based receivers., , , , , und . CICC, Seite 1-4. IEEE, (2010)Split capacitor DAC mismatch calibration in successive approximation ADC., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). CICC, Seite 279-282. IEEE, (2009)An Adaptation Engine for a 2x Blind ADC-Based CDR in 65 nm CMOS., , , und . IEEE J. Solid State Circuits, 46 (12): 3140-3149 (2011)A fractional-sampling-rate ADC-based CDR with feedforward architecture in 65nm CMOS., , , , , , und . ISSCC, Seite 166-167. IEEE, (2010)22.2 A 25Gb/s hybrid integrated silicon photonic transceiver in 28nm CMOS and SOI., , , , , , , , , und 7 andere Autor(en). ISSCC, Seite 1-3. IEEE, (2015)A pattern-guided adaptive equalizer in 65nm CMOS., , , , und . ISSCC, Seite 354-356. IEEE, (2011)A 1-to-6Gb/s phase-interpolator-based burst-mode CDR in 65nm CMOS., , , , und . ISSCC, Seite 154-156. IEEE, (2011)