Autor der Publikation

General Modular Multiplication by Block Multiplication and Table Lookup.

, und . ISCAS, Seite 295-298. IEEE, (1994)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

General Modular Multiplication by Block Multiplication and Table Lookup., und . ISCAS, Seite 295-298. IEEE, (1994)CAD reference flow for 3D via-last integrated circuits., , , , und . ASP-DAC, Seite 187-192. IEEE, (2010)Hierarchical Test Integration Methodology for 3-D ICs., , , , , und . IEEE Des. Test, 32 (4): 59-70 (2015)Software-hardware-cooperated built-in self-test scheme for channel-based DRAMs., , , , , , und . ITC-Asia, Seite 107-111. IEEE, (2017)A built-in self-repair scheme for DRAMs with spare rows, columns, and bits., , , , , und . ITC, Seite 1-7. IEEE, (2016)SRAM delay fault modeling and test algorithm development., , , und . ASP-DAC, Seite 104-109. IEEE Computer Society, (2004)A self-testing and calibration method for embedded successive approximation register ADC., , , , , , , und . ASP-DAC, Seite 713-718. IEEE, (2011)DLL-Assisted Clock Synchronization Method for Multi-Die ICs., , , und . ICCD, Seite 473-476. IEEE Computer Society, (2017)On Tolerating Faults of TSV/Microbumps for Power Delivery Networks in 3D IC., , , , , , , , und . ISVLSI, Seite 459-464. IEEE Computer Society, (2017)3D-IC BISR for stacked memories using cross-die spares., , , , , , , und . VLSI-DAT, Seite 1-4. IEEE, (2012)