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Impact of Technology Spreading on MEMS design Robustness., , , , , , und . VLSI-SOC, Volume 218 von IFIP Conference Proceedings, Seite 241-251. Kluwer, (2001)Phase noise measurement on IF analog signals using standard digital ATE resources., , , und . NEWCAS, Seite 121-124. IEEE, (2014)Experiments on the analysis of phase/frequency-modulated RF signals using digital tester channels., , , , und . LATW, Seite 1-7. IEEE, (2010)Low-cost digital solution for production test of ZigBee transmitters Special Session ÄMS-RF testing"., , , und . LATS, Seite 1-2. IEEE, (2023)On the Use of an Oscillation-Based Test Methodology for CMOS Micro-Electro-Mechanical Systems., , , und . DATE, Seite 1120. IEEE Computer Society, (2002)Embedded Test Instrument for On-Chip Phase Noise Evaluation of Analog/IF Signals., , , und . DDECS, Seite 237-242. IEEE Computer Society, (2015)Combo of innovative educational approaches to teach industrial test to undergraduate students., , und . EDUCON, Seite 56-64. IEEE, (2017)Noise optimisation of a piezoresistive CMOS MEMS for magnetic field sensing., , , und . VLSI-SOC, Volume 218 von IFIP Conference Proceedings, Seite 461-472. Kluwer, (2001)Exploration of a digital-based solution for the generation of 2.4GHz OQPSK test stimuli., , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2021)Problem-Based Learning Approach to Teach Printed Circuit Boards Test., , und . ICL (1), Volume 544 von Advances in Intelligent Systems and Computing, Seite 45-57. Springer, (2016)