Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Advanced Fault-Tolerance Techniques for a Color Digital Camera-on-a-Chip., , und . DFT, Seite 3-10. IEEE Computer Society, (2001)Experimental study and analysis of soft and permanent errors in digital cameras., , , , und . DFT, Seite 11-14. IEEE Computer Society, (2016)Fault Tolerance for Islandable-Microgrid Sensors., und . DFT, Seite 1-4. IEEE, (2021)Correcting high-density hot pixel defects in digital imagers., , , und . IMSE, Volume 9022 von SPIE Proceedings, Seite 90220G. SPIE, (2014)Hot Pixel Behavior as Pixel Size Reduces to 1 micron., , , und . IMSE, Seite 39-45. Society for Imaging Science and Technology, (2017)Empirical formula for rates of hot pixel defects based on pixel size, sensor area, and ISO., , , und . Sensors, Cameras, and Systems for Industrial and Scientific Applications, Volume 8659 von SPIE Proceedings, Seite 86590C. SPIE, (2013)Statistical identification and analysis of defect development in digital imagers., , , und . Digital Photography, Volume 7250 von SPIE Proceedings, Seite 72500. SPIE, (2009)A Multiprocessor System-on-Chip Implementation of a Laser-based Transparency Meter on an FPGA., , , und . FPT, Seite 373-376. IEEE, (2007)Identification of in-field defect development in digital image sensors., , , , , und . Digital Photography, Volume 6502 von SPIE Proceedings, Seite 65020Y. SPIE, (2007)Level-Hybrid Optoelectronic TESH Interconnection Network., und . DFT, Seite 45-52. IEEE Computer Society, (2003)