( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Pomeranz, Irith"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Fault diagnosis aware ATE assisted test response compaction.

, , , und . ASP-DAC, Seite 812-817. IEEE, (2011)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Irith Baumann

Irith Wiegand

Irith Bittmann

Alexander Pomeranz

Irith Bittmann

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Computation of Seeds for LFSR-Based n-Detection Test Generation.. ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 22 (2): 29:1-29:13 (2017)Test Modification for Reduced Volumes of Fail Data., , und . ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 22 (4): 67:1-67:17 (2017)Generation of Transparent-Scan Sequences for Diagnosis of Scan Chain Faults.. ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 22 (3): 43:1-43:17 (2017)FOLD: Extreme Static Test Compaction by Folding of Functional Test Sequences.. ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 20 (4): 57:1-57:19 (2015)Partitioned n-detection test generation., und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 93-98. ACM, (2009)Definition and application of approximate necessary assignments., und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 105-108. ACM, (2009)ITEM: an iterative improvement test generation procedure for synchronous sequential circuits., und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 13-18. ACM, (2001)A test pattern ordering algorithm for diagnosis with truncated fail data., , , und . DAC, Seite 399-404. ACM, (2006)On test generation for transition faults with minimized peak power dissipation., , und . DAC, Seite 504-509. ACM, (2004)N-detection under transparent-scan.. DAC, Seite 129-134. ACM, (2005)