Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Techniques for Disturb Fault Collapsing., und . J. Electron. Test., 23 (4): 363-368 (2007)Fault collapsing for flash memory disturb faults., und . ETS, Seite 142-147. IEEE Computer Society, (2005)A Stimulus-Free Probabilistic Model for Single-Event-Upset Sensitivity., , und . VLSI Design, Seite 100-107. IEEE Computer Society, (2006)