Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Analysis of multibackground memory testing techniques.. Int. J. Appl. Math. Comput. Sci., 20 (1): 191-205 (2010)Optimal Backgrounds Selection for Multi Run Memory Testing., und . DDECS, Seite 332-338. IEEE Computer Society, (2008)Universal Address Sequence Generator for Memory Built-in Self-test., , und . CoRR, (2022)Transparent Memory Tests Based on the Double Address Sequences., und . Entropy, 23 (7): 894 (2021)Impact of the address changing on the detection of pattern sensitive faults., , und . Information Processing and Security Systems, Springer, (2005)Optimal Controlled Random Tests., und . CISIM, Volume 10244 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 27-38. Springer, (2017)Iterative Antirandom Testing., und . J. Electron. Test., 28 (3): 301-315 (2012)Antirandom Test Vectors for BIST in Hardware/Software Systems., und . Fundam. Informaticae, 119 (2): 163-185 (2012)Multi Background Memory Testing., , und . CISIM, Seite 155-156. IEEE Computer Society, (2008)Address Sequences Generation for Multiple Run Memory Testing., , und . CISIM, Seite 341-344. IEEE Computer Society, (2007)