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Novel Low Cost, Double-and-Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs for Nano-scale CMOS.

A. Yan, C. Lai, Y. Zhang, J. Cui, Z. Huang, J. Song, J. Guo, und X. Wen. IEEE Trans. Emerg. Top. Comput., 9 (1): 520-533 (2021)

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