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Disambiguierung von "Todri, Aida"

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A built-in scheme for testing and repairing voltage regulators of low-power srams.

, , , , , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)

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Aida Nonn

Experimentelle und numerische Analyse des Schädigungsverhaltens von Hybridlaserschweiverbindungen. TU Aachen, (2009)

Patricia Woedem Aidam

Aida Zewdu Kebede

Mu ammad aidar - bkan r

Ibr al- aidar

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Effect-cause intra-cell diagnosis at transistor level., , , , , , und . ISQED, Seite 460-467. IEEE, (2013)A built-in scheme for testing and repairing voltage regulators of low-power srams., , , , , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)A study of path delay variations in the presence of uncorrelated power and ground supply noise., , , , , und . DDECS, Seite 189-194. IEEE Computer Society, (2011)Low-power SRAMs power mode control logic: Failure analysis and test solutions., , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)A study of reliability issues in clock distribution networks., und . ICCD, Seite 101-106. IEEE Computer Society, (2008)Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs., , , , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 459-460. IEEE Computer Society, (2011)Analysis and optimization of power-gated ICs with multiple power gating configurations., , und . ICCAD, Seite 783-790. IEEE Computer Society, (2007)Defect analysis in power mode control logic of low-power SRAMs., , , , , , und . ETS, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)Through-Silicon-Via resistive-open defect analysis., , , , , und . ETS, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)Electromigration and voltage drop aware power grid optimization for power gated ICs., , und . ISLPED, Seite 391-394. ACM, (2007)