Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Use of lithography simulation for the calibration of equation-based design rule checks., , und . DAC, Seite 67-70. ACM, (2009)DFM, DFT, Silicon Debug and Diagnosis - The Loop to Ensure Product Yield., , , und . VLSI Design, Seite 14. IEEE Computer Society, (2006)An innovative method to automate the waiver of IP-level DRC violations., , und . ISQED, Seite 493-498. IEEE, (2010)ATE Data Collection - A comprehensive requirements proposal to maximize ROI of test., , , , und . ITC, Seite 181-189. IEEE Computer Society, (2004)Isolating and Removing Sources of Variation in Test Data., , , , und . ITC, Seite 464-471. IEEE Computer Society, (2002)Method for Managing Electromigration in SOC'S When Designing for Both Reliability and Manufacturing., , und . SoCC, Seite 95-102. IEEE, (2006)Industry-Government Collaboration: Queensland 's IT&T Strategy and the Information Industries Board., und . PACIS, Seite 63. AISeL, (1997)Process monitoring via independent components., , und . SMC, Seite 3496-3500. IEEE, (2003)Semiconductor manufacturing process visualization., , , und . SMC, Seite 4940-4944. IEEE, (2003)Meeting Nanometer DPM Requirements Through DFT., und . ISQED, Seite 276-282. IEEE Computer Society, (2005)