Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Efficient Tests for Realistic Faults in Dual-Port SRAMs., und . IEEE Trans. Computers, 51 (5): 460-473 (2002)Evaluating the Impact of Process Variation on RRAMs., , , , , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE, (2021)Special Session: STT-MRAMs: Technology, Design and Test., , , , , und . VTS, Seite 1-10. IEEE, (2022)Magnetic Coupling Based Test Development for Contact and Interconnect Defects in STT-MRAMs., , , , , , , , , und . ITC, Seite 236-245. IEEE, (2023)An automated formal-based approach for reducing undetected faults in ISO 26262 hardware compliant designs., , , und . ITC, Seite 329-333. IEEE, (2021)Testing STT-MRAM: Manufacturing Defects, Fault Models, and Test Solutions., , , , , und . ITC, Seite 143-152. IEEE, (2021)Characterization and Test of Intermittent Over RESET in RRAMs., , , , , , , , und . ATS, Seite 1-6. IEEE, (2023)IEEE European Test Symposium (ETS)., , , , , , , und . ITC, Seite 1-4. IEEE, (2019)Emerging Computing Devices: Challenges and Opportunities for Test and Reliability*., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). ETS, Seite 1-10. IEEE, (2021)RRAM Crossbar-Based Fault-Tolerant Binary Neural Networks (BNNs)., , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2022)