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Towards the Integration of Reliability and Security Mechanisms to Enhance the Fault Resilience of Neural Networks., , , , und . IEEE Access, (2021)Using Formal Methods to Support the Development of STLs for GPUs., , , , , und . ATS, Seite 84-89. IEEE, (2022)Automatic Identification of Functionally Untestable Cell-Aware Faults in Microprocessors., , , , , und . ATS, Seite 1-6. IEEE, (2023)Maximizing the Switching Activity of Different Modules Within a Processor Core via Evolutionary Techniques., , und . DSD, Seite 535-540. IEEE, (2021)Functional Testing with STLs: A Step Towards Reliable RISC-V-based HPC Commodity Clusters., , , , und . ISC Workshops, Volume 13999 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 444-457. Springer, (2023)Fault Grading Techniques for Evaluating Software-Based Self-Test with Respect to Small Delay Defects., , , und . IOLTS, Seite 1-6. IEEE, (2024)Automating the Generation of Functional Stress Inducing Stimuli for Burn-In Testing., , , , , und . ETS, Seite 1-5. IEEE, (2023)Effective SAT-based Solutions for Generating Functional Sequences Maximizing the Sustained Switching Activity in a Pipelined Processor., , , , , und . ATS, Seite 73-78. IEEE, (2021)Evaluating the Reliability of Integer Multipliers With Respect to Permanent Faults., , , und . DDECS, Seite 124-129. IEEE, (2024)Constraint-Based Automatic SBST Generation for RISC-V Processor Families., , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2023)