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Disambiguierung von "Hawkins, Charles F."

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Charge Based Transient Current Testing (CBT) for Submicron CMOS SRAMs.

, , , , und . ITC, Seite 947-953. IEEE Computer Society, (2002)

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Beth Hawkins

Mildred Hawkins

Heidi-Jayne Hawkins

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Multiple-parameter CMOS IC testing with increased sensitivity for I_DDQ., , , , , und . ITC, Seite 1051-1059. IEEE Computer Society, (2000)Defect Oriented Fault Diagnosis for Semiconductor Memories using Charge Analysis: Theory and Experiments., , , , , und . VTS, Seite 286-291. IEEE Computer Society, (2001)Increased CMOS IC stuck-at fault coverage with reduced I DDQ test sets., , , und . ITC, Seite 427-435. IEEE Computer Society, (1990)Zero defects or zero stuck-at faults-CMOS IC process improvement with IDDQ., , und . ITC, Seite 255-256. IEEE Computer Society, (1990)Parametric Failures in CMOS ICs - A Defect-Based Analysis., , , und . ITC, Seite 90-99. IEEE Computer Society, (2002)Burn-in Temperature Projections for Deep Sub-micron Technologies., , , , und . ITC, Seite 95-104. IEEE Computer Society, (2003)A View from the Bottom: Nanometer Technology AC Parametric Failures -- Why, Where, and How to Detect., , und . DFT, Seite 267-. IEEE Computer Society, (2003)Multiple-parameter CMOS IC testing with increased sensitivity for IDDQ., , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 11 (5): 863-870 (2003)IDDQ Design and Test Advantages Propel Industry., und . IEEE Des. Test Comput., 12 (2): 40-41 (1995)Reliability and Electrical Properties of Gate Oxide Shorts in CMOS ICs., und . ITC, Seite 443-451. IEEE Computer Society, (1986)