From post

копировать удалить добавить публикацию в буфер
Запись сообщества
посмотреть историю данной записи
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

A Test-Per-Clock LFSR Reseeding Algorithm for Concurrent Reduction on Test Sequence Length and Test Data Volume.

W. Lien, K. Lee, и T. Hsieh. Asian Test Symposium, стр. 278-283. IEEE Computer Society, (2012)

Please choose a person to relate this publication to

To differ between persons with the same name, the academic degree and the title of an important publication will be displayed.

Jong-Kwan Lee

Jong-Ha Lee

Jong-Soo Lee

Jong Wan Lee

Jong-Won Lee

Другие публикации лиц с тем же именем

An IDDQ Fault Model to Facilitate the Design of Built-In Current Sensor (BICSs).J. Tang, B. Liu, и K. Lee. ISCAS, стр. 393-396. IEEE, (1995)Transformation of multiple fault models to a unified model for ATPG efficiency enhancement.C. Wu, и K. Lee. ITC, стр. 1-10. IEEE, (2016)An on-chip self-test architecture with test patterns recorded in scan chains.K. Lee, P. Tang, и M. Kochte. ITC, стр. 1-10. IEEE, (2016)SWiTEST: A Switch Level Test Generation System for CMOS Combinational Circuits.K. Lee, C. Njinda, и M. Breuer. DAC, стр. 26-29. IEEE Computer Society Press, (1992)A low-cost SOC debug platform based on on-chip test architectures.K. Lee, S. Liang, и A. Su. SoCC, стр. 161-164. IEEE, (2009)Using both Stable and Unstable SRAM Bits for the Physical Unclonable Function.Z. Lai, P. Huang, и K. Lee. J. Electron. Test., 38 (5): 511-525 (2022)Counter-Based Output Selection for Test Response Compaction.W. Lien, K. Lee, T. Hsieh, K. Chakrabarty, и Y. Wu. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 32 (1): 152-164 (2013)An on-chip march pattern generator for testing embedded memory cores.W. Wang, K. Lee, и J. Wang. IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 9 (5): 730-735 (2001)Using Unstable SRAM Bits for Physical Unclonable Function Applications on Off-The-Shelf SRAM.Z. Lai, и K. Lee. APCCAS, стр. 41-44. IEEE, (2019)Test generation for open and delay faults in CMOS circuits.C. Wu, K. Lee, и S. Reddy. ITC-Asia, стр. 21-26. IEEE, (2017)

Что такое BibSonomy?: С чего начать; Кнопки для браузера; Помощь
Разработчикам: Обзор; API-документация

Контакт и защита личных данных: о нас; Cookies; Сообщить о проблеме; BibSonomy Вики

Интеграция: PUMA; Расширение для TYPO3; Плагин для; Клиент Java REST; Поддерживаемые источники; далее

О BibSonomy: Команда; Блог; Список рассылки
Социальные сети: Наш Twitter