Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A Self-Tuning IoT Processor Using Leakage-Ratio Measurement for Energy-Optimal Operation., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). IEEE J. Solid State Circuits, 55 (1): 87-97 (2020)Stress Data Collection and Analysis using "MindScale" for Stress Visualization., , , , , , und . GCCE, Seite 754-756. IEEE, (2023)A 2.46M reads/s Genome Sequencing Accelerator using a 625 Processing-Element Array., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). CICC, Seite 1-4. IEEE, (2020)An Adaptive Body-Biaslna SoC Using in Situ Slack Monitoring for Runtime Replica Calibration., , , , , , , , , und . VLSI Circuits, Seite 63-64. IEEE, (2018)Stress Data Collection and Analysis Using "Mind Scale" with the Post-Covid World., , , , , , und . ICCE, Seite 1-3. IEEE, (2023)A 4 + 2T SRAM for Searching and In-Memory Computing With 0.3-V VDDmin., , , , , , , , , und . IEEE J. Solid State Circuits, 53 (4): 1006-1015 (2018)AµProcessor Layer for mm-Scale Die-Stacked Sensing Platforms Featuring Ultra-Low Power Sleep Mode at 125°C., , , , , , , und . A-SSCC, Seite 1-4. IEEE, (2020)A 6.4pJ/Cycle Self-Tuning Cortex-M0 IoT Processor Based on Leakage-Ratio Measurement for Energy-Optimal Operation Across Wide-Range PVT Variation., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). ISSCC, Seite 314-315. IEEE, (2019)A 224 PW 260 PPM/°C Gate-Leakage-Based Timer for Ultra-Low Power Sensor Nodes with Second-Order Temperature Dependency Cancellation., , , , , , , und . VLSI Circuits, Seite 117-118. IEEE, (2018)A 0.04MM316NW Wireless and Batteryless Sensor System with Integrated Cortex-M0+ Processor and Optical Communication for Cellular Temperature Measurement., , , , , , , , , und 6 andere Autor(en). VLSI Circuits, Seite 191-192. IEEE, (2018)