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Disambiguierung von "Belleville, Marc"

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Sub-1V, Robust and Compact 6T SRAM cell in Double Gate MOS technology.

, , und . ISCAS, Seite 2778-2781. IEEE, (2007)

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Andreé Belleville

Stefanie Marczoch

Langzeitverlauf von 200 Patienten mit kraniofazialen und zervikalen Dystonien bis zu 12 Jahre nach der ersten Botulinumtoxin-Behandlung. TU München, (2009)

Hans-Peter Marchal

Erna Marcus

Friedrich Marcus

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Experimental analysis of flip-flops minimum operating voltage in 28nm FDSOI and the impact of back bias and temperature., , , , und . PATMOS, Seite 1-7. IEEE, (2014)Multi-application electrical stimulator architecture dedicated to waveform control by electrode-tissue impedance spectra monitoring., , , und . ICECS, Seite 33-36. IEEE, (2012)Limits of CMOS Technology and Interest of NEMS Relays for Adiabatic Logic Applications., , , , und . IEEE Trans. Circuits Syst. I Regul. Pap., 62-I (6): 1546-1554 (2015)Digital Timing Slack Monitors and Their Specific Insertion Flow for Adaptive Compensation of Variabilities., , , , , , und . PATMOS, Volume 5953 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 266-275. Springer, (2009)3D Integration for Digital and Imagers Circuits: Opportunities and Challenges.. PATMOS, Volume 6448 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 256. Springer, (2010)Adaptive Architectures, Circuits and Technology Solutions for Future IoT Systems., , , , , , , , und . J. Low Power Electron., 13 (3): 298-309 (2017)A mixed LPDDR2 impedance calibration technique exploiting 28nm Fully-Depleted SOI Back-Biasing., , , und . ICICDT, Seite 1-4. IEEE, (2012)Energy autonomous sensor systems: Towards a ubiquitous sensor technology., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). Microelectron. J., 41 (11): 740-745 (2010)Computing detection probability of delay defects in signal line tsvs., , , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Dedicated network for distributed configuration in a mixed-signal Wireless Sensor Node circuit., , und . PATMOS, Seite 55-62. IEEE, (2015)