Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

To DFT or Not to DFT?, , , , und . ITC, Seite 557-566. IEEE Computer Society, (1997)CAD at the Design-Manufacturing Interface., , , , , und . DAC, Seite 321-326. ACM Press, (1997)Testability-oriented channel routing., , , , und . VLSI Design, Seite 208-213. IEEE Computer Society, (1995)Design-Manufacturing Interface: Part II - Applications., , , , , und . DATE, Seite 557-562. IEEE Computer Society, (1998)Hierarchical extraction of critical area for shorts in very large ICs., und . DFT, Seite 19-27. IEEE Computer Society, (1995)Testing oriented analysis of CMOS ICs with opens., , und . ICCAD, Seite 344-347. IEEE Computer Society, (1988)Design for manufacturability in submicron domain., , , und . ICCAD, Seite 690-697. IEEE Computer Society / ACM, (1996)DREAMS: DFM rule EvAluation using manufactured silicon., , , , , und . ICCAD, Seite 99-106. IEEE, (2013)AFFCCA: a tool for critical area analysis with circular defects and lithography deformed layout., , , , , , und . DFT, Seite 10-18. IEEE Computer Society, (1995)Design-Manufacturing Interface: Part I - Vision., , , und . DATE, Seite 550-556. IEEE Computer Society, (1998)