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Disambiguierung von "Taubin, Alexander"

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Change Diagram : A behavioural model for very speed VLSI circuit/highly parallel systems.

, , , , und . PDP, Seite 220-226. IEEE, (1994)

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Alexander

Alexander Stadler

Messtechnische Bestimmung und Simulation der Kernverluste in weichmagnetischen Materialien. Uni Erlangen-Nürnberg, (2009)

Alexander Auch

A phylogenetic potpourri: computational methods for analysing genome scale data. Uni Tübingen, (2010)

Alexander Gocht

Methods in economic farm modelling. Uni Bonn, (2009)

Alexander Blecken

A reference task model for supply chain processes of humanitarian organisations. Uni Paderborn, (2009)
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Formal method for self-timed design., , und . EURO-DAC, Seite 197-201. EEE Computer Society, (1991)Elastic Circuits., , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 28 (10): 1437-1455 (2009)A Structural Approach for the Analysis of Petri Nets by Reduced Unfoldings., , , und . Application and Theory of Petri Nets, Volume 1091 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 346-365. Springer, (1996)The Use of Petri Nets for the Design and Verification of Asynchronous Circuits and Systems., , , , und . Journal of Circuits, Systems, and Computers, 8 (1): 67-118 (1998)Checking Delay-Insensitivity: 104 Gates and Beyond., , , , und . ASYNC, Seite 149-157. IEEE Computer Society, (2002)Delay Insensitive Encoding and Power Analysis: A Balancing Act., , , , , und . ASYNC, Seite 116-125. IEEE Computer Society, (2005)Lazy transition systems: application to timing optimization of asynchronous circuits., , , , , und . ICCAD, Seite 324-331. ACM / IEEE Computer Society, (1998)DPA on Faulty Cryptographic Hardware and Countermeasures., , und . FDTC, Volume 4236 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 211-222. Springer, (2006)Change Diagram : A behavioural model for very speed VLSI circuit/highly parallel systems., , , , und . PDP, Seite 220-226. IEEE, (1994)Partial-scan delay fault testing of asynchronous circuits., , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 17 (11): 1184-1199 (1998)