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Efficient BDD-based Fault Simulation in Presence of Unknown Values., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 383-388. IEEE Computer Society, (2011)Autonomous Testing for 3D-ICs with IEEE Std. 1687., , , und . ATS, Seite 215-220. IEEE Computer Society, (2016)Test Set Stripping Limiting the Maximum Number of Specified Bits., , , und . DELTA, Seite 581-586. IEEE Computer Society, (2008)Variation-Aware Small Delay Fault Diagnosis on Compressed Test Responses., , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2019)Built-In Test for Hidden Delay Faults., , , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 38 (10): 1956-1968 (2019)Optimized Selection of Frequencies for Faster-Than-at-Speed Test., , , , , und . ATS, Seite 109-114. IEEE Computer Society, (2015)Concurrent Self-Test with Partially Specified Patterns for Low Test Latency and Overhead., , und . ETS, Seite 53-58. IEEE Computer Society, (2009)Efficient fault simulation on many-core processors., , , und . DAC, Seite 380-385. ACM, (2010)Power-aware test generation with guaranteed launch safety for at-speed scan testing., , , , , , , und . VTS, Seite 166-171. IEEE Computer Society, (2011)An on-chip self-test architecture with test patterns recorded in scan chains., , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2016)