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TSUNAMI: a light-weight on-chip structure for measuring timing uncertainty induced by noise during functional and test operations., und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 183-188. ACM, (2012)A new hybrid FPGA with nanoscale clusters and CMOS routing., und . DAC, Seite 727-730. ACM, (2006)Enhanced launch-off-capture transition fault testing., , und . ITC, Seite 10. IEEE Computer Society, (2005)Critical Paths Selection and Test Cost Reduction Considering Process Variations., und . Asian Test Symposium, Seite 259-264. IEEE Computer Society, (2013)Layout-Aware, IR-Drop Tolerant Transition Fault Pattern Generation., , , und . DATE, Seite 1172-1177. ACM, (2008)Analysis of power consumption and transition fault coverage for LOS and LOC testing schemes., , , , , , , , , und . DDECS, Seite 376-381. IEEE Computer Society, (2010)Defect Tolerance for Molecular Electronics-Based NanoFabrics Using Built-In Self-Test Procedure.. DFT, Seite 305-313. IEEE Computer Society, (2005)Securing Scan Design Using Lock and Key Technique., , , und . DFT, Seite 51-62. IEEE Computer Society, (2005)Secure Split-Test for preventing IC piracy by untrusted foundry and assembly., , und . DFTS, Seite 196-203. IEEE Computer Society, (2013)Case study: Detecting hardware Trojans in third-party digital IP cores., und . HOST, Seite 67-70. IEEE Computer Society, (2011)