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Disambiguierung von "Medeiros, Guilherme Cardoso"

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A DFT Scheme to Improve Coverage of Hard-to-Detect Faults in FinFET SRAMs.

, , , , , , und . DATE, Seite 792-797. IEEE, (2020)

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Guilherme Lepski

A comparative analysis of human adult mesenchymal and fetal neuronal stem cells with regard to their neurogenic potential. Uni Freiburg, (2009)

Pilar Medeiros

António Medeiros

Hamilton Medeiros

Ghendy Cardoso

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Evaluating the Impact of Resistive Defects on FinFET-Based SRAMs., , , und . VLSI-SoC (Selected Papers), Volume 500 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 22-45. Springer, (2017)NBTI-Aware Design of Integrated Circuits: A Hardware-Based Approach for Increasing Circuits' Life Time., , , und . J. Electron. Test., 32 (3): 315-328 (2016)DFT Scheme for Hard-to-Detect Faults in FinFET SRAMs., , , , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2019)Analyzing the behavior of FinFET SRAMs with resistive defects., , , und . VLSI-SoC, Seite 1-6. IEEE, (2017)Intermittent Undefined State Fault in RRAMs., , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2021)Hierarchical Memory Diagnosis., , , , , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2022)Evaluating the Impact of Ionizing Particles on FinFET -based SRAMs with Weak Resistive Defects., , , , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE, (2020)Hard-to-Detect Fault Analysis in FinFET SRAMs., , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 29 (6): 1271-1284 (2021)Defects, Fault Modeling, and Test Development Framework for RRAMs., , , , , , und . ACM J. Emerg. Technol. Comput. Syst., 18 (3): 52:1-52:26 (2022)PVT Analysis for RRAM and STT-MRAM-based Logic Computation-in-Memory., , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2022)