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An approach for system tests design and its application., , , und . VTS, Seite 448-453. IEEE Computer Society, (1995)An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares., , , , und . EWDTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2015)Automated flow for test pattern creation for IPs in SoC., , , und . EWDTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2017)An efficient testing methodology for embedded flash memories., , , und . EWDTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2017)Generic BIST architecture for testing of content addressable memories., , , , und . IOLTS, Seite 86-91. IEEE Computer Society, (2011)Advanced ECC-Based FIT Rate Mitigation Technique for Automotive SoCs., , , , und . ITC, Seite 1-6. IEEE, (2018)Memory FIT Rate Mitigation Technique for Automotive SoCs., , , , , , , und . ITC, Seite 1-6. IEEE, (2019)Experimental study on Hamming and Hsiao codes in the context of embedded applications., , , und . EWDTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2017)Securing test infrastructure of system-on-chips., , , und . EWDTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2016)Alternative Combination of Processes., und . PDPTA, Seite 576-582. CSREA Press, (2006)