Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

TCAD and SPICE modeling help solve ESD protection issues in analog CMOS technology., , , , , , und . Microelectron. Reliab., 43 (1): 71-79 (2003)Potentialities of substrate-thinning technique to control minority carrier injection in smart power IC's., , , , und . Microelectron. J., 37 (8): 804-811 (2006)Failure mechanisms of discrete protection device subjected to repetitive electrostatic discharges (ESD)., , , , , , und . Microelectron. Reliab., 49 (9-11): 1103-1106 (2009)Energy Harvesting for Powering Wireless Sensor Networks On-Board Geostationary Broadcasting Satellites., , , , , , , , und . GreenCom, Seite 637-640. IEEE Computer Society, (2012)Energy-harvesting powered variable storage topology for battery-free wireless sensors., , , und . MOCAST, Seite 1-4. IEEE, (2018)Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis., , , und . Microelectron. Reliab., (2017)The mirrored lateral SCR (MILSCR) as an ESD protection structure: design and optimization using 2-D device simulation., , , , , , und . IEEE J. Solid State Circuits, 34 (9): 1283-1289 (1999)A current conveyor based BIC sensor for current monitoring in mixed-signal circuits., , , und . ICECS, Seite 1210-1212. IEEE, (1996)Low Frequency Noise Measurements for ESD Latent Defect Detection in High Reliability Applications., , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 44 (9-11): 1781-1786 (2004)Application of various optical techniques for ESD defect localization., , , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 46 (9-11): 1563-1568 (2006)