Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fault Diagnosis of Physical Defects Using Unknown Behavior Model., , , und . J. Comput. Sci. Technol., 20 (2): 187-194 (2005)Towards the next generation of low-power test technologies.. ASICON, Seite 232-235. IEEE, (2011)Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 30 (3): 455-463 (2011)Thermal-Aware Small-Delay Defect Testing in Integrated Circuits for Mitigating Overkill., , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 35 (3): 499-512 (2016)Cost-Effective and Highly Reliable Circuit-Components Design for Safety-Critical Applications., , , , , , , , und . IEEE Trans. Aerosp. Electron. Syst., 58 (1): 517-529 (2022)Two sextuple cross-coupled SRAM cells with double-node-upset protection and cost optimization for aerospace applications., , , , , , und . Microelectron. J., (September 2023)Novel Radiation Hardened Latch Design with Cost-Effectiveness for Safety-Critical Terrestrial Applications., , , , , , , und . ATS, Seite 43-48. IEEE, (2019)A Novel Triple-Node-Upset-Tolerant CMOS Latch Design using Single-Node-Upset-Resilient Cells., , , , , , , , und . ITC-Asia, Seite 139-144. IEEE, (2019)Targeted Partial-Shift For Mitigating Shift Switching Activity Hot-Spots During Scan Test., , und . PRDC, Seite 124-129. IEEE, (2019)Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction., , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 24 (1): 38-49 (2016)